雙電測四探針測試儀 雙電測四探針測定儀 雙電測四探針電阻率測試儀

本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購. 
雙電測四探針測試儀 雙電測四探針測定儀 雙電測四探針電阻率測試儀雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。 
提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，滿足國內(nèi)及國外客戶需求 
廣泛用于：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試 
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等 
參數(shù)資料 
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□ 
2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm 
3.測試電流范圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA 
4.電流精度：±0.1%讀數(shù) 
5.電阻精度：≤0.3% 
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 
7.測試方式: 雙電測量 
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果） 
10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 
11.測試探頭：  探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針

產(chǎn)品名稱：玻璃盤管冷凝器 產(chǎn)品型號：LNQ 玻璃盤管冷凝器 型號：LNQ   換熱面積M2 DN DN1 DN2 Lmm L1mm L2mm 1 Ø180 25 25 620 430 65 Ø180 25 40 620 430 80 Ø180 25 50 620 430 85 Ø180 25 80 620 430 100 Ø180 25 100 620 430 125 1.5 Ø230 40 25 725 485 65 Ø230 40 40 725 485 80 Ø230 40 50 725 485 85 Ø230 40 80 725 485 100 Ø230 40 100 725 485 125 2 300 50 50 760 485 85 300 50 80 760 485 100 300 50 100 760 485 125   注：玻璃盤管冷凝器 ！     換熱面積M2 DN DN1 Lmm 2.5 300 4*25 600   〖 關閉 〗