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        當(dāng)前位置:首頁  >  產(chǎn)品中心  >    >  建筑設(shè)備  >  WT-2000平流式溶氣加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置

        平流式溶氣加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置
        簡(jiǎn)要描述:

        平流式溶氣加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置 型號(hào):WT-2000
        工作條件:
        環(huán)境溫度:5℃~40℃、處理水量:0.3m3/h, 做實(shí)驗(yàn)前一定配置好污水加藥混凝沉淀及儀器(包括)濁度儀、烘箱、量筒、燒杯等。電源 220V。
        實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?/h1>

        • 產(chǎn)品型號(hào):WT-2000
        • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
        • 更新時(shí)間:2020-06-29
        • 訪  問  量:2478

        詳細(xì)介紹

        平流式溶氣加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置 加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置 型號(hào):WT-2000

        平流式溶氣加壓氣浮實(shí)驗(yàn)裝置工作條件:
        環(huán)境溫度:5℃~40℃、處理水量:0.3m3/h, 做實(shí)驗(yàn)前一定配置好污水加藥混凝沉淀及儀器(包括)濁度儀、烘箱、量筒、燒杯等。電源 220V。
        實(shí)驗(yàn)?zāi)康模?br />氣浮法是進(jìn)行固體分離的一種主要方法,常被用于分離密度小于或接近于水,難以用重力自然沉降法去除的懸浮顆粒。氣浮方法很多,本實(shí)驗(yàn)裝置采用加壓溶氣法。由于懸浮顆粒的性質(zhì)和濃度、微氣泡的數(shù)量和直徑等多種因素對(duì)氣浮效率有影響,因此,氣浮處理系統(tǒng)的設(shè)計(jì)運(yùn)行參數(shù)常要通過試驗(yàn)確定。通過實(shí)驗(yàn)希望達(dá)到下述目的 :
        1、深化對(duì)加壓溶氣氣浮系統(tǒng)及其各部分的組成,運(yùn)行過程及其操作和控制要點(diǎn),溶氣水 釋放的表現(xiàn)特征及浮渣的形成的理解。
        2、加深對(duì)懸浮顆粒濃度、操作壓力、氣固比、釋氣量與澄清效果間的關(guān)系的理解。
        實(shí)驗(yàn)流程原理:
        進(jìn)行氣浮時(shí),用水泵將污水抽水送至壓力為2—4個(gè)大氣壓的溶氣 罐中,同時(shí)注入加壓空氣。空氣在罐內(nèi)溶解于加壓的清水或經(jīng)處理的回流水中,然后使經(jīng)過溶氣的水(溶氣水)通過減壓閥(或釋放器)進(jìn)水氣浮池 ,此時(shí)由于壓力的突然降低,溶解于加壓的水中的空氣便以微氣泡的形式從水中釋放出來。微細(xì)氣泡在上升的過程中附著懸浮顆粒上,使顆粒的密度減小,上浮到氣浮池的表面與水分離,而使雜質(zhì)從水中得以去除。
        技術(shù)指標(biāo)及參數(shù):
        1、環(huán)境溫度:5℃~40℃
        2、處理水量0.3m3/h,溶氣壓力0.2~0.4 Mpa,回流比30%
        3、溶氣罐為不銹鋼制;
        4、設(shè)計(jì)進(jìn)、出水、濁度等: 進(jìn)水 出水
        濁度:50°~100° 5°~15°
        顆粒雜質(zhì):20~80mg/L 2~8 mg/L
        pH 6~9 6~9
        5、反應(yīng)池尺寸:長(zhǎng)×寬×高=1100mm×400mm×600mm 有機(jī)玻璃壁厚度10 mm
        6、裝置外形總尺寸:長(zhǎng)×寬×高=1500mm×450mm×1600mm
        7、電源 220V單相三線制 功率500W

         

         

         

         

        產(chǎn)品名稱:電阻率方塊電阻測(cè)試儀 
        產(chǎn)品型號(hào):KDB-1

        本方阻測(cè)試新產(chǎn)品為薄膜測(cè)試提供機(jī)械、電氣兩方面的保護(hù),在寬廣的量程范圍內(nèi),使各種電子薄膜能得到準(zhǔn)確、無損的方塊電阻測(cè)量結(jié)果。 
        由于新型薄膜材料種類繁多,研制過程中樣品性能變化較大,而且各種薄膜的機(jī)械強(qiáng)度,允許承受的電壓、電流均不相同,因此KDB-1型測(cè)試儀可為用戶量身定制各種特定探針壓力及曲率半徑的探針頭,儀器的測(cè)試電流分7檔,可由0.4μA增加到大為1000mA,測(cè)試電壓可由8V增加到80V,測(cè)試電壓和測(cè)試電流均可連續(xù)調(diào)節(jié),給薄膜、涂層的研制者提供了一個(gè)摸索測(cè)試條件的寬闊空間。 
        由于儀器設(shè)有恒流源開關(guān),并且所有電流檔在探針與樣品接觸后均有電流延時(shí)接通的功能,充分保護(hù)了樣品表面不會(huì)因?yàn)樘结樈佑|時(shí)產(chǎn)生的電火花而受到損壞。 
        儀器性能 
        方阻測(cè)量范圍:1×10-5~2×106Ω/□,小分辨率1×10-5Ω/□; 
        電阻率測(cè)量范圍:1×10-6~2×105Ω·cm或1×10-8~2×103Ω·m,小分辨率1×10-6Ω·cm或1×10-8Ω·m; 
        探針壓力:25g~250g; 
        探針曲率半徑:25μm~450μm 
        (注:探針壓力及曲率半徑可根據(jù)薄膜材料性能及用戶需求定制); 
        測(cè)試電流分7檔:1μA、10μA、100μA、1mA、10 mA、100 mA、1000 mA; 
        測(cè)試電壓:(1μA~10 mA檔)12~80V連續(xù)可調(diào) 
                   (100mA檔)    8~36V連續(xù)可調(diào) 
                  (1000mA檔)    8~15V連續(xù)可調(diào); 
        測(cè)量方式:手動(dòng)或自動(dòng)(配置測(cè)試軟件); 
        測(cè)量對(duì)象:導(dǎo)電薄膜、半導(dǎo)體薄膜、電力電容器鋁箔、各種金屬箔、銀漿涂層、鋰電池隔膜等各種新型電子薄膜;各種半導(dǎo)體材料的電阻率。 
         


         

         

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