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        方塊電阻測(cè)試儀的使用特點(diǎn)

        更新時(shí)間:2022-11-22      點(diǎn)擊次數(shù):536

         方塊電阻測(cè)試儀的使用特點(diǎn)

        TD-XX-2型方塊電阻測(cè)試儀,是TD-XX型系列四探針方塊電阻 測(cè)試儀中的新一代產(chǎn)品, 是一種依照類似的國家標(biāo)準(zhǔn)和美國 A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì),**門測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的新 型儀器。
           可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧 化膜)……等同類物質(zhì)的薄層電阻。
         技術(shù)特點(diǎn): 
        * 測(cè)量范圍:基本量程:方塊電阻 1.00—199.99(Ω/□); 擴(kuò)展量程:方塊電阻 10.0—1999.9(Ω/□); 
        * 以大屏幕LCD顯示讀數(shù),直觀清晰。 
        * 采用單個(gè)干電池供電,帶電池欠壓指示; 
        * 體積≤175mm X90mm X42mm,重量≤300g;
         * 帶探頭與被測(cè)物質(zhì)接觸良好指示(LED); 
        * 單電源開關(guān),推拉式探頭-主機(jī)接插件,操作其簡便。

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