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        光耦參數(shù)測(cè)試儀

        更新時(shí)間:2017-12-18      點(diǎn)擊次數(shù):484

        光耦參數(shù)測(cè)試儀型號(hào):JFY3010A

        JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀詳細(xì)介紹 
        ※概述: 
        JFY3010A光耦參數(shù)測(cè)試儀,是一種專(zhuān)門(mén)用于各種電子元件參數(shù)測(cè)試的新型多功能測(cè)試裝置。該機(jī)采用大規(guī)模MCU設(shè)計(jì),中文界面操作,大容量?jī)?nèi)存,可存2000種元件參數(shù)設(shè)置數(shù)據(jù).儀器外型美觀、性能穩(wěn)定、測(cè)量準(zhǔn)確、操作簡(jiǎn)單、使用安全方便,適用電子產(chǎn)品生產(chǎn)廠家或電子元件供應(yīng)商來(lái)料檢測(cè)。 
        ※             測(cè)量元件類(lèi)型:三管類(lèi)型4腳 6腳光耦 
        ※             測(cè)量參數(shù):

        參數(shù)指標(biāo)表:

        參數(shù)項(xiàng)

        測(cè)試參數(shù)

        測(cè)試條件設(shè)置

        輸入正向壓降(VF)

        0-2.000V

        0-400MA

        耐壓(BVCEO)

        0-1200V

        0-2.000MA

        傳輸比(CTR)

        0-3000

        VCE:0-20V IC:0-2.000A

        飽和壓降(Vsat)

        0-2.000V

        IF:0-400MA IC:0-2.00A

        輸出漏電流(Iceo)0-1mAVCE=20V
        輸入反向漏電流(IR)0-1mAVR=4V
         

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